SM300 可見光高光譜成像儀
SM300可見光高光譜成像儀(yi) 是為(wei) 顯微測量應用研發的一款顯微高光譜成像係統,在400nm-700nm範圍內(nei) 可以快速采集顯微視場內(nei) 樣品高光譜數據和精細空間圖像,通過數據處理分析進而挖掘在微...
SM300可見光高光譜成像儀(yi) 是為(wei) 顯微測量應用研發的一款顯微高光譜成像係統,在400nm-700nm範圍內(nei) 可以快速采集顯微視場內(nei) 樣品高光譜數據和精細空間圖像,通過數據處理分析進而挖掘在微...
SM320可見近紅外光高光譜成像儀(yi) 是為(wei) 顯微測量應用研發的一款顯微高光譜成像係統,在400nm-1000nm範圍內(nei) 可以快速采集顯微視場內(nei) 樣品高光譜數據和精細空間圖像,通過數據處理分析進而...
SM330可見近紅外光高光譜成像儀(yi) 是為(wei) 顯微測量應用研發的一款顯微高光譜成像係統,在400nm-1000nm範圍內(nei) 可以快速采集顯微視場內(nei) 樣品高光譜數據和精細空間圖像,通過數據處理分析進而...
SM350近紅外光高光譜成像儀(yi) 是為(wei) 顯微測量應用研發的一款顯微高光譜成像係統,在900nm-1700nm範圍內(nei) 可以快速采集顯微視場內(nei) 樣品高光譜數據和精細空間圖像,通過數據處理分析進而挖掘...
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